该公司还有6条同类“集成电路测试仪器”供应商机
详细信息
| 【特 性】 |
△ 查找失效电容、二极管、TTL或CMOS芯片、可控硅等；
△ 采用离线测试，避免线路板带电测试时将导致的进一步损坏；
△ 双输入通道(AB交替方式)，可使使用者对损坏板元件与同型号完好元件进行比较分析；
△ 对于专用元件，仪器可提供专门的低电流交变信号，通过观察电压、电流特征响应，即可诊断元件损坏与否；
△ 可调测试参数能够对于专用元件的特征响应加以突出及衰减；
△ 不同参数范围允许操作者选择特殊的电压、电阻及频率组合，为各种特别元件的测试量身裁衣；
△ 通过改变量程参数，实现特征响应方位图差异性的聚集分析，例如调节电压量小于600mV，无源元件可在无连带半导体影响的条件下测试其特征响应；
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| 【技术参数:】 |
测试频率：20、50、60、200或2KHz
输出波形：正弦波 通道：双通道
输出电压：200mV、2V、5V、10V或15V
源阻抗：10，100，1K，10K或100KΩ
量程选择：自动扫描或手动
交替频率：0.5Hz～5Hz(可调)
过载保护：电子电流断路器
DC 电源：0～±5VDC(最大50mA)
输入电压：220VAC
显 示：320X240彩色LCD
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