在维修各种电子设备时，您是否常因图纸资料不全而束手无策？您是否常因高昂的维修费用而增添烦恼？
高能检测仪GT-4040P帮助您解除电路板维修中的烦恼。 高能检测仪配合电脑使用，全部智能化。它利用电脑来弥补人工维修能力的不足，能够在维修人员缺乏图纸资料或不清楚电路板工作原理的情况下，对各种类型的电路板进行ASA分析或ICT测试，在线检测元器件好坏，迅速检测到电路板上故障元器件。

*先进的测试技术，强大的驱动能力，任何故障原因的电路板皆可修好；
*友好简单的中文操作界面，不经专业训练，任何人均可成为维修专家；
*无需电路原理图，不必知道器件型号，对任何电路板皆可快速维修；
*40路数字电路测试功能，备有TTL、CMOS及中大规模集成电路数据库；
*40路/2路（ASA）V/I曲线分析测试功能；
*电路板测试存储功能，被测板可与之比较；
*真正的总线动态隔离信号，使IC测试更加准确；
*全面电路网络表提取，使您方便画出相应原理图；
*全面存储器测试，方便您对存储器测试及在线读取；
*简单编程语言，使您自行扩充库成为现实；
*与进口同类仪器比较，性价比更优，操作更方便。
工作原理:
       （Analog Signature Analysis）对元件每个管脚提供一个安全、低功率的扫描驱动电压信号，以便产生一个阻抗特性图并在CRT上显示，且可存储，以备比对。所有测试都是在静态下（不加电）执行，所以不会伤害到元件。它不仅能快速扫描并存储各类IC每个管脚V/I曲线图形，并且对各类分立元件如：电阻、电容等同样有效。
      （In Circuit Testing）它能把待测元件与PC资料库内相对应的元件资料作逻辑功能测试比较，测试时可在CRT上显示元件管脚连接状态、元件输入管脚的输入波形，同时显示相应输出管脚的实测波形及标准波形，以便判定IC逻辑功能好坏。此功能可快速测试IC好坏，也可测试分析，还可识别不明型号的IC。

主要测试功能:

数字IC功能测试

        本功能采用后驱动隔离技术，可在线判定IC逻辑功能是否正确，可测试74系列、4000/4500逻辑IC、75系列接口IC等两千余种集成电路。将测试仪上的5V外供电源通过随机所带电源钩引到被测板，再把测试夹夹在被测IC上，输入其型号，测试仪就在微机的控制下，自动进行测试，并将结果显示出来。在这个过程中，测试仪首先检查是否对被测板正确供电，然后检查测试夹同被测IC是否接触良好。一切正常，再检查被测IC各管脚处于何种状态（比如电源，地、输入/输出等）以及哪些管脚短接在一起，据此求出相应的测试码，送到被测IC输入端，再从IC输出端取回对测试码的响应。将取回的实测响应和计算出的预期响应相比较，就能发现故障。（后驱动隔离技术：后驱动隔离技术由美国施伦伯杰公司的Factron在68年提出。早在这类在线维修测试仪出现之前，就在生产用大型针床式电路板测试仪上得到广泛应用。该技术利用了半导体器件允许瞬态过载的特性，向被测IC的前级输出灌进瞬间大电流，强迫其按测试需要由高变低或由低变高。达到被测IC输入在线施加测试码的目的。）

快速测试

        故障电路板上有许多中小规模IC，究竟哪些IC是有问题的，可利用"快速测试"迅速进行筛选。此功能仅给出IC是否通过测试的结果，不提供任何故障诊断信息。下一步用诊断测试对未通过测试的IC作进一步的检查。

诊断测试

    该测试不仅给出测试是否通过的信息，测试过程中的测试码波形、响应波形、各管脚的逻辑状态、测试前的管脚电平、管脚的连接关系以及器件图都能显示出来，供您查阅。比较预期响应和实际响应的不同，可进一步了解IC测试失败的原因。 图为74ls24的管脚电平和连接关系

IC循环测试（Loop Test）

    该功能专为检查因温升造成的故障而设。有的IC开机运行几分钟后，由于温升而失效，当停机后寻找故障时，温度降低功能又恢复正常。这种故障使维修人员深感头痛，"循环测试"功能有助于发现这种问题。

无型号IC识别 

    功能测试时必须键入被测IC的型号，但经常有IC型号不清楚或故意擦掉的情况，使得测试工作无法进行。本功能可迅速把无型号的IC的型号自动查出来显示在屏幕上。但这种查找必须是器件库内有的，并且功能必须完好。

离线测试

       上述几种测试功能均可在随机的离线测试器上进行。并且结果更准确。可用器件筛选，或对在线测试有问题的器件做进一步的确认。

数字IC状态测试

        路板上每个数字器件，在加电后都有3种状态特征：各管脚的逻辑状态（电源、地、高阻、信号等）、管脚之间的连接关系、输入输出逻辑关系。当器件损坏后，其状态特征一般都要发生变化。测试仪能够把好的电路板上各IC的状态特征提取出来，存入微机的数据库中，然后与同类有故障的电路板进行比较，从而可相当准确的找到故障器件。这类学习的板越多，日后的工作越方便。 这种测试方法不仅适用于器件库中已有的IC，也适用于库中没有的IC。是检测各种专用器件、PAL、GAL、EPLD等可编程器件以及大规模集成电路强有力的手段。
VI曲线分析测试

        本测试功能建立于模拟特征分析技术之上。可应用于模拟、数字，各种专用器件、可编程器件以及大规模、超大规模器件。 使用测试仪进行此项测试十分简单。只需用探棒点到好板子上的元件管脚上，或者用测试夹夹在器件上，测试仪就能自动把该结点的特征曲线提取出来，显示在计算机屏幕上，最后存入计算机中。通过同样简单的操作，可以将库中的曲线和新测到的曲线在屏幕上同时显示出来。比较两者之差异就能发现故障。 曲线在计算机中是以电路板为单位存放的。一个板一个文件，板上所有结点的曲线都放在该文件中，没有容量限制。允许用软盘拷贝出来。 该项测试一般要求在被测板不加电的情况下进行检测（只是注意板子上的电压不能高于扫描电压），这在很多情况下有助于进一步确认故障。 逻辑器件管脚节点处含有R、C、L元件，或者是模拟集成电路的故障，用"IV曲线分析"方法是很有效的。 "VI曲线"反映了节点处的阻抗特性，实际电路中的曲线形状是多样的，我们要熟悉典型元件的曲线形状；如纯电阻为直线，其斜率大，阻值小；纯电容为一椭圆，椭圆的Y/X轴比例越大其容量也越大，以及我们常见的二极管、稳压管等不对称非线性PN结特征曲线等等。实际电路中提取的VI曲线必是这些典型曲线的合成。所以根据实际电路节点的VI曲线几何形状，可大致推测出该节点是哪些元件组成的；反之也可推测出某些属性节点提取的曲线的大概形状。如果比预测形状相差甚远，肯定有问题。 " VI曲线分析"还有另一个实用性：即当电路板上芯片温度异常过热，为了避免扩大故障范围，不适于加电测试时，可改用"VI曲线分析"（不加电）逐个管脚检查，能确切地定位故障点。 测试时需要注意的是当元件阻值（或阻抗）过大（R>300K，C<500PF）、过小（R<10，C>400uF）时，其曲线与开路、短路无法区分。VI曲线分析的这种局限性供您工作中参考。 

全面存储器测试

        全面存储器测试可对SRAM/DRAM，PROM/EPROM存储器共1500余种；
        进行在线/离线、快速/完全测试，满足不同测试需求。 对PROM/EPROM，将其中的内容读取出来，和以前电路板无故障时读出并存储在计算机中的内容相比较，不一致则说明有问题。 DRAM/SRAM，在测试期间先写入，再读出。写入内容和读出内容不一致则说明有问题。

快速测试 

       其特点是测试速度很快，用于迅速检测被测存储器是否有故障。它不遍历每个存储单元，只按一定算法取部分存储单元进行测试。

完全测试 

       遍历每个存储单元，所以可把PROM/EPROM中的内容全部读出来，存成二进制文件，供用户复制或剖析。

离线测试

       对未焊接在板子上的存储器进行测试，离线测试只有完全测试。

在线测试

        对焊接在板子上的存储器进行测试。存储器测试的特点是时间长。完全测试一个2K容量的存储器，也比最复杂的逻辑器件所用时间长得多。所以在线测试支持快速测试和完全测试。并且对完全测试进行了特殊处理，使得既能访问到每一个存储单元，有能保证测试安全。 存储器往往都挂在总线上，要保证在线测试准确，需用GUARD信号进行总线隔离。测试存储器所需要的时间与存储容量成正比。对一个容量1K字节的读写存储器进行完全测试（即遍历每一个存储单元），至少需要4096个测试节拍。对容量为2K、4K、8K的存储器，其测试时间分别是测1K存储器的2倍，4倍，8倍。