UM-1超声波测厚仪说明UM-1超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-1超声波测厚仪具有最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值；数据存储；报警功能参数UM-1技术数据工作原理 :脉冲～回波方式测量范围 :0.8～300mm取决于所用探头、所测材料、表面状况单位和显示分辨率 :毫米-0.1  英寸-0.01探头零点校准:一点校准（用于常规的厚度测量）两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量精度）V路径修正自动V声程修正，补偿双晶探头的非线性度  示值误差 :±0.1mm  (10mm以下)±0.5% H +0.01 (10mm以上)注：H为被测物厚度 重复性:±0.1mm显示屏:128×64点阵液晶屏（42×57毫米）, 具有EL背光，可调节对比度, 厚度值数字高度可达13.75毫米测量刷新频率:常规测量时4Hz，最小值扫查时25Hz材料声速范围:1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/us数据存储 :划分5个数组，可存储500个厚度值工作语言 :中文、英文电源 :两节1.5VAA电池,当电池电量不足时，有低电压提示操作时间 :两节5号电池，使用时间可达200小时自动关机 :5分钟无操作后自动关机工作温度 :-10℃～+50℃，有特殊要求可达-20℃尺寸 :149mm×73mm×32mm (H×W×D)重量 :含电池200g标准配置 :UM系列测厚仪标配探头仪器箱两节碱性电池耦合剂操作手册合格证装箱单选配件 :橡胶外套；众多可供选择的探头；校准用阶梯试块；耦合剂及高温耦合剂