比表面测定仪特点:静态容量法分析仪，全自动进行，内置真空泵，结构紧凑； 一次装2个样品，预处理与测试同位进行，测试时真空度≤1Pa； 氮气分压精确控制，间隔≤0.01，等温吸附测试压力点可高于100点； 测试只用氮气，不用氦气，氮气及液氮消耗量极小，大大降低测试成本； 比表面测定仪JW-RB型静态容量法BET比表面测定仪比表面测定仪产 品 特 点：       比表面测定仪技术参数比表面测定仪功    能：  ＢＥＴ比表面测定（单点法、多点法），  Ｌａｎｇｍｕｉｒ比表面测定，本机以测定比表面为主，也可测定等温吸附曲线，进行ＢＪＨ法介孔孔径分析和t-图法微孔分析比表面测定仪气    体：  高纯氮气比表面测定仪极限真空度：６．８×１０－２Ｐａ比表面测定仪氮 分 压：  0.０１～ 0.35 ～ ０．995， 比表面测定仪控制精度：  ０.00025比表面测定仪压力设置：  最小间隔0.01，全程压力测试点可高达100个；比表面测定仪测试范围：  比表面　≥0.01M2/g , 无规定上限，  孔  径  0.7 ~ 400nm比表面测定仪测试精度：  ≤±２%比表面测定仪样品数量：  2个测试样品，预处理同位进行比表面测定仪运行方式：  全自动运行；比表面测定仪特点     * 本公司独创的静态容量法分析仪，全自动进行，内置真空泵，结构紧凑；     * 一次装2个样品，预处理与测试同位进行，测试时真空度≤1Pa；     * 氮气分压精确控制，间隔≤0.01，等温吸附测试压力点可高于100点；     * 测试只用氮气，不用氦气，氮气及液氮消耗量极小，大大降低测试成本；