斜 线 光 栅 密 度 仪 ☆　中国专利： ZL 95243970.0 ☆　全国第九届 “星火杯”创造发明二等奖 ☆　1995年上海市优秀发明二等奖 ☆　上海市优秀发明十年成就展金奖【 概  述 】 ＨＹ—Ｄ型斜线光栅密度仪是运用现代高科技开发设计和高精密研制，结构原理科学，斜线光栅分布精密清晰，直接最高测量范围达到了500目 /英寸（200线 / 厘米），分度值仅0.5和1线 / 厘米，达到了一个新的水平。【应用范围】 适用于各种能产生可见干涉条纹的均布网点、线条排列密度的测量。如彩色印刷图版的网点、网屏线数的快速精确测量，纺织品丝织物的经纬密度，精密分样筛、试验筛、金属丝布、合纤筛网的规格密度（网目数）的无损、快速精确测量，摄像机、CCD、扫描仪、复印机、打印机、电脑、电视机和各种显示器的精度线数快速精确测量，照相机、放大机对焦调整，精密印刷网版的形变精度的精确控制测量等。【使用方法】 用相应规格的斜线光栅密度仪，放在被测物上，观察互相所产生的干涉花纹曲线，其显示出最清晰的一组花纹（形似上下对称的双曲线）中心对应的刻度值，即为箭头指示方向的公制每厘米（上侧读数）和英制每英寸（下侧读数）长度内的线条数或网目数。摄像机、CCD、扫描仪、复印机、打印机、照相机、放大机直接读出能清晰分辨斜线之极限处的刻度值。【技术规格】  通过上海市计量测试技术研究院检测型号            公制测量范围        外形尺寸HY-D50         10-50根/cm            0.3×80×200mm   HY-D200       40-200根/cm          0.3×80×200mm