AT817 采用高能处理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR测试仪器。大规模的贴片技术的运用，使得AT817仅需微型机箱即可容纳。依赖于安柏科技精湛的技术，使其性能亦无可挑剔。内建50Hz~100kHz 10点测试频率，并且提供0.1V、0.3V和1V测试电平，使其能完全满足多数生产现场的使用。使用安柏科技 AT-OS 2005 微型仪器操作系统，使AT817具有傻瓜式操作界面。内置RS232C接口，兼容SCPI编程语言，很容易与计算机通讯，完成所有仪器功能。内置Handler接口，配合RS232C接口完成复杂的自动控制系统。技术规格●测试参数：L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad)●测试频率：50Hz~100kHz●基本准确度：0.05%●测试电平：0.1V, 0.3V, 1.0V●测试速度：1.5次/秒，5次/秒，15次/秒●主副参数5位显示●L: 0.01μH-99999H●C: 0.01pF - 99999μF●R,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ?●D,Q: 0.00001 - 999999●θ(deg): -90.000°- 90.000°?●θ(rad): -3.1416 – 3.1416●Δ%: -99999% - 99999%●输出阻抗：30Ω, 50Ω 100Ω●等效电路：串联, 并联●9量程自动或手动测试。性能特征●高亮度，超清晰四色VFD显示。●校正功能：全量程程开路和短路扫频清零。●第三窗口可同时显示 Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%或分选结果。●比较器（分选）功能：内建20组分选记录，P1,P2,P3,NG,AUX 五档分选结果显示和输出。●自定义分选结果讯响和音量。●内置RS232C接口和Handler接口。●显示亮度可调。●1000V超强冲击保护