日本日置电容测试仪/电容表/C测试仪 HIOKI 3504-10的基本参数 测量参数 Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tan） 测量范围 C:0.9400pF～20.0000mFD:0.00001～1.99000 基本確度 （代表値）C:±0.09% rdg. ±10 dgt.,D:±0.0016※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各係数 测量频率 120Hz, 1kHz 测量信号电平 恒定电压模式: 500 mV, 1 V测量范围:CV1V: ～ 70 μF 量程（测量频率1kHz）CV1V: ～ 700 μF 量程（测量频率120Hz）CV500 mV: ～ 170 μF 量程（测量频率1kHz）CV500 mV: ～ 1.45mF 量程（测量频率120Hz）信号电平精度 ±10% ± 5 mV 输出电阻 5Ω（CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外） 显示 发光二级管 测量时间 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 機能 BIN 分选测量功能（仅限于3504）, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能, EXT I/O输入/输出, RS-232C接口（标准）, GP-IBイ接口（仅限于3504） 电源 AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA 体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg 附件 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1 相位同期功能(特殊式样)同时使用多台3504时,可实现测试信号的相位同期。相似的试料测试时所发生的不稳定情况减少,测试状况稳定。根据需求,相位同期功能还可以对应特殊式样。日本日置电容测试仪/电容表/C测试仪 HIOKI 3504-10的性能： 最多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504) 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 120Hz 时10ms。 可选定测量电压 触发同步测量 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头