1、测量：（1）输入端口 a、30 MHz—2400 MHz的高频通道端口 b、10 Hz—30 MHz的低频通道端口 c、晶振插孔为晶体测量端口（2）频率测量 a、量程：          C 0ㄈh  为“0”档  测量频率为30 MHz—2400 MHz        C 1ㄈh  为“1”档  测量频率为30 MHz—800 MHz        C 2ㄈh  为“2”档  测量频率为100 KHz—30 MHz        C 3ㄈh  为“3”档  测量频率为10 Hz—30 MHz b、分辩率：        1 Hz, 10 Hz，100 Hz c、精度：        ±1计数值±基准时间误差x频率 d、闸门时间：        0.1S，1S，10S    e、输入灵敏度：                 20 MV    f、输入阻抗：                 50Ω/ 1 MΩ    j、最大输入电压：                   30 V2、计数测量：   在第“4”档位（C4ㄈh）由10 Hz—30 MHz插口输入，分辩率为±1输入计数值。3、晶体测量:  在“2”和“3”档位上从面板晶振输入插孔插入欲测之晶体，测试晶振范围为100KHz—40 MHz（24MC以上为测量值x3）。4、中周校准：①频率范围：   A单片机、四片机的视频检波中周37.8MHz                  AFT：37MHz                  B两片机的视频检波中周38.7MHz                  AFT：37.8MHz②频率误差：±0.2MHz5、电源电压：AC 220 V ±10%；  频率50 Hz6、功   耗：3 W7、温   度：  使用范围 -5℃ —+50℃               存放运输 -40℃ —+60℃8、湿   度：  10-90 % RH      存放运输 5-90 % RH9、预热时间：10分钟10、尺  寸：200 x 60 x 160 (mm)11、重  量：约0.5 Kg