半导体激光器特性参数测试系统产品概要：    LDT-5000特性参数测试仪可用于中、小功率LD的特性参数测试。通过给被测LD逐步增加电流，并采集它的两端电压、输出的光功率和背光电流，得到LD的正向注入电流、正向电压、光输出功率等特性参数。与PC机和相应的应用操作软件构成LD特性参数测试系统，可自动绘制L-I、V-I、Im-I、dV/dI、dL/dI特性参数曲线；并由此计算得到LD的其它特性参数，如：阈值电流对应的电压（Vth），指定功率点对应的电流（Iop），指定功率点对应的电压（Vop）。测试仪可保存LD测试的数据和回放各种参数及特征曲线，同时根据需要对所有测试数据进行打印输出。根据器件封装形式的不同选择不同的夹具，包括：TO系列、COS、C-MOUNT、BAR系列、光纤输出系列等等。同时可以根据不同行业的需要进行设计，以满足科研、生产、教学等需要。 技术指标：驱动方式             ACC、AMC、APC、AVC设定电流值        If 0～2mA、0～20mA 0～200mA、0～2000mA工作电压（最大）                 Vf 5VPD偏置电压                       ±5V温度控制范围                  -10℃～+99.9℃温度稳定度                        0.01℃控制方式                          PI控制TEC驱动（最大）                 5V、5A温敏电阻选择          10K/25℃，B=3450；10K/25℃，B=3900 测试参数：正向注入电流If正向电压Vf流过PD光电流Im光输出功率PoV-I特性曲线功率微分曲线电压微分曲线串联电阻RsIm-I特性曲线L-I特性曲线阈值电流Ith斜率效率 应用领域：半导体激光器(LD)生产制造商、半导体激光器(LD)品质检测及科研、光电专业教学实验等。