强大的测试功能特点：1)适合各种类型的测试,模拟及数字集成电路及各种分立器件的测试2)可进行在线或离线测试与分析3)具有24路测试通道，也可使用探棒进行巡检测试，针对各种类型的封装元件进行测试。4)安全性高的无电源测量方式，不用给电路板加电，系统自动施加各种类型的测试条件，最大可能地保证测试安全。5)多种测试类型：1)简单类型V-I曲线测试，针对固定某一管脚的不同管脚的测试，2)矩阵式V-I曲线测试模式, 可针对管脚间的阻抗曲线进行测试。提供了丰富的测试信息，保证的测试的可靠性。6)在进行离线测试时, 可针对蕊片内部进行阻抗分析7)自动对比及储存V-I曲线,以备日后调取，方便了元件库的建立8)可切换VI,VT及IT三种显示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件9)可设定同步脉冲信号的宽度, 进行可控规元器件或FET的功能测试10)可进行光耦合及继电器元器件的速度功能测试11)具有二组信号源, 可输出直流信号, 针对光耦合器及继电器进行稳态测试.12)显示相似度百分比，具有业界中最多的信号频率调整档位, 对于故障的查找有相当的帮助.13)测试频率高达到12kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件14)系统具备自动信号补偿功能, 可针对测试环境及夹具进行自校测试, 以防止量测信号失真.15)可进行维修日志的编写，将维修记录长期保存，以备日后查看。16)可由软件加入图片, 用来清楚的表示被测元件的位置及电路板样式.17)可选择利用USB或PCI通讯接口来进行仪器的操作, 也可安装在PC内来节省所占的空间. 测试参数： V-I 测试参数量测通道:24 多任务信道+ 2 实时对比通道 + 2 同步脉冲信号信道信号电压范围:2 V to 50 V peak to peak电压分辨率:8 to 12 bits信号频率范围:37.5 Hz to 12 kHz信号电流范围:1 μA to 150 mA信号阻抗范围:100 Ohm to 1 M测试信号波形:正弦波,方波,三角波,斜波,脉冲波显示图形模式:V-I, V-T, I-T量测波形自动对比功能:可利用实时量测双通道来自动实时对比好坏组件的波形, 或是将波形进行存储之后, 再进行比对工作.同步脉冲输出模式:正向(Positive), 负向(negative)或双向(bipolar)波形同步信号振幅:可调式由 +10 V ~ - 10V   全功能V-I测试模块2400 全功能V-I测试仪是一个经由计算机控制来针对各类元器件进行V-I测试的模块.其大小与一个CD-ROM的大小相同, 所以它可以被安装在个人计算机之中或是另外选配的外接盒之中.而这是一个包含好坏电路板实时对比的全面性电路板故障检测功能.SYSTEM 8的全功能V-I测试模块可完全的由客户来设定其测试的各种参数.用户可依照不同的组件性来设定信号波形参数.即便是波形的颜色或是背景的颜色,也可以依照用户的需求来进行来自行设定.这是一个良好电容器的基本V-I图形,可以利用实时对比通道来进行波形比对,可依比对的相似度来判定是否为故障组件的图形.可利用实时双信道对比模式来实时比对二点不同通道的波形差异度.可利用此方式来分辩好板坏板上各点量测波形的相似度,进而找到故障的组件.而此方式适合刚入门的检修工程人员来使用.此模块还提供了二个同步脉波输出信号,可提供MOSFET或门流体的触发信号.而其脉冲宽度, 信号极性及触发角度皆可设置.功能强大的矩阵扫描式VI曲线量测方式.它可分别依序将各管脚作为一信号的基准点,再对其它的管脚作VI曲线量测.此功能会比一般的VI曲线量测更精准,更快速.可同时显示多组波形在同一个显示窗内.此方式可同时检视多个通道的比对结果.或是点选放大其中一个波形来进行故障波形分析.V-I 测试能力量测通道:24 多任务信道+2实时对比通道+2同步脉冲信号信道信号电压范围:2 V to 50 V peak to peak电压分辨率:8 to 12 bits信号频率范围:37.5 Hz to 12 kHz信号电流范围:1 µA to 150 mA信号阻抗范围:100 Ohm to 1 M测试信号波形:Sine, square, triangle, ramp, pulse显示图形模式:V-I, V-T, I-T量测波形自动对比功能:可利用实时量测双通道来自动实时对比好坏组件的波形,或是将波形进行存储之后,再进行比对工作.同步脉冲输出模式:正向(Positive), 负向(negative)或双向(bipolar)波形同步信号振幅:可调式由+10 V~-10V信号校正:自动附件(Accessories) 标准附件1x24通道DIL测试夹1x24通道测试线2x接地线2x同步脉冲测试线1x蓝色V-I测试探棒1x黄色V-I测试探棒1x双信道贴片组件测试夹具选购附件(Options)适配卡:PCI interface独立的外接盒:可选配使用USB接口的独立式外接盒. VI曲线的定义    V-I曲线测试是一种针对模拟及数字电路全方位且可靠度高的测试方法.其测试方式是透过输出电压信号通过被测组件上所形成的电流信号,而定义出该被测节点的阻抗.     而经由连续的电压-电流信号的变化所产生的阻抗测试数据,将此一连续的测试数据绘制成一曲线,此为被测组件的V-I曲线. 通常可利用已知好的电路板上的V-I曲线,来比对待测的电路板或组件,可达到快速故障诊断的目的.而这项测试技术最主要的优势是在于不需为电路板或组件加电,即可直接进行比对测试.所以,即使是无法动作的电路板也可以进行故障检测工作.