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  • 武汉顿杰仪器有限公司
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详细信息
 类型:   少子寿命测试仪  两夹紧装置相距:   销售分布在北京、上海、武汉、十堰、襄樊、宜昌、福州、长沙、南昌、重庆、成都、郑州、合肥、苏州、深圳、东莞、西安、青岛、沈阳、大连、哈尔滨等地。 ((mm))
 试件啮合角度:   MDP-09 ((度))  试件开启角度:   郑州、武汉、长沙、广州、深圳 南宁、成都、重庆、贵阳、昆明、拉萨、西安、兰州、西宁、银川、乌鲁木齐、宁波、桂林、海南海口、温州、大理 ((度))
 装箱数:   广东、广西、浙江、福建、江苏、安徽、江西、湖北、湖南、云南、贵州、四川、青海、陕西、甘肃、宁夏、河南、河北、山东、山西、辽宁、吉林、黑龙江、内蒙古、新疆、西藏等 ((PCS))  外形尺寸:   销售分布在北京、天津、石家庄、秦皇岛、太原、呼和浩特、满洲里、沈阳、大连、丹东 、长春、哈尔滨、上海、南京、连云港、杭州、合肥、福州、厦门、南昌、 济南、青岛、 ((mm))

采用微波反射光电导衰减方法测量半导体材料的少数载流子寿命(Minority carrier lifetime)。德国产品,品质保证。 技术参数:- 样品厚度:10um-20mm; - 样品尺寸:5*5mm ~ 210mm*210mm(或12英寸);- 电阻率:0.1 ~ 1000 Ohm.cm;- 电导类型:P型、N型;- 应用范围:硅, 外延层, 部分或完全处理的硅, 化合物半导体;- 可测量:寿命(稳定态或非平衡(u-PCD)可选择),           光电导率(稳定态) -> 均衡扩散长度(proportional diffusion length);- 寿命范围:0.1us - >100ms;- 测量时间:依据样品尺寸,如6英寸硅晶圆、1mm分辨率不超过5分钟;- 软件:MDP-soft 06, 参数自动设置, 原始数据存取方便;- 仪器尺寸:680*380*450mm,  重量:40Kg,  功率:110-230V/50-60Hz/5A max.; 仪器特点:1、u-PCD少数载流子寿命测量;2、测量光电导率、缺陷发射;3、少子寿命的快速扫描Mapping;4、非接触的半导体电学特性描述;5、测量太阳能级硅、IC级硅;6、测量外延epi;
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