SGG-01纳米测长仪型 号 数显分辨率 最大测量范围 十次测量重复性 测量稳定性 示值误差 测量力SGG-01 0.1nm 500μm(可走行程1.2mm) ≤0.5nm 漂移≤0.5nm/10分钟 ±(3+0.03L)nm 0.001～0.1N注：L＝实际使用的测量范围，单位：μm构   成：     由传感器测头、数显表（数显卡）及测量台架三部分组成。特   点：此种传感器（测长仪）是本公司与国内外多位专家联合研究的结晶，原为本公司内部使用作为测量参考基准，现应相关客户要求，开始对市场供应。其主要特点是：极高的测量灵敏度。数字分辨率可达0.1纳米；极佳的稳定性与重复性。测量重复性及稳定性都在0.5纳米以内；极小的测量误差（极好的线性）。全量程线性≤0.005％（十万分之五)；很微的测量力。从0.001N到0.1N可选定；很大的测量范围与分辨率比值。可达 （五百万倍）；很宽的环境适应性。对室温变化要求不严，对气压、温度、空气折射率等不敏感；很广的材料适用范围。可测任何种类金属物体，也可以测玻璃、晶片等任何非导体；很远的测量距离。测量点和读数点可以远离3～30米，长电缆传输对测量结果没有影响。SGG-01纳米测长仪