美国贝克曼库尔特公司隆重推出的Delsa Nano系列Zeta 电位及粒度分析仪，应用 PCS 光子相关光谱法以及最新 FST 专利技术，是一款新型的具有极高的动态测量范围的多用途的测量仪。不但拥有独家的固体表面 Zeta电位分析功能，同时拥有独一无二的可进行高浓度样品的 Zeta 电位测量功能。完全符合 ISO13321 国际标准的 Delsa Nano 系列为目前功能最强大的Zeta 电位纳米粒度分析仪。 最适于从事纳米技术、无机原料、表面化学、高聚物、有机质、药剂以及医学等的基础研究与应用研究。 Delsa Nano 的技术特点   惟一拥有测定颗粒在高浓溶液中的 zeta 电位的技术  惟一拥有测定固体与薄膜等材料液固界面zeta 电位的技术  极宽的动态测量范围（0.6nm~7μm），可精确测量稀释悬浮液或高浓度悬浮液   宽达4 个数量级的浓度测量范围：0.001% ~ 40%   多角度测量(15 度、30 度及160 度)  选配PH自动滴定装置可提供 zeta 电位的动态变化  方便易用的样品池及软件   采用电渗截面测定技术，确保测量可靠准确  提供可用于特殊样品的即用即弃的样品池（可选）  备有可选的微量样品池  采用线性相关器与对数相关器相连合的技术，可适品的表征  严格遵循ISO13321 测定粒径的光子相关法标准