美国NANOVEA微米/显微划痕测试仪饰  美国NANOVEA公司是一家全球公认的划痕测试仪的革新者，生产的划痕测试仪是目前国际上用在科学研究和工业领域最先进的设备之一，该公司在光学设计、精密机械和科学软件算法方面，拥有长期不断发展的专利技术，由于这些专门技术的应用，NANOVEA为生产和质量控制的研究和发展提供精密准确的全方位解决方案。微米/显微划痕仪主要用于界定涂层薄膜与基底的结合强度与薄膜的抗划痕强度，主要应用在：半导体技术(钝化层、镀金属、Bond Pads)；存储材料(磁盘的保护层、磁盘基底上的磁性涂层、CD的保护层)；光学组件(接触镜头、光纤、光学刮擦保护层)；金属蒸镀层；防磨损涂层(TiN, TiC, DLC, 切割工具)；药理学(药片、植入材料、生物组织)；工程学(油漆涂料、橡胶、触摸屏、MEMS)；主要特点有：1. 完全符合ASTM D7187，D7027，D1624，C171，ISO 20502，ISO 15182. 光学显微镜自动观察压电陶瓷反馈控制加载载荷与划痕深度的实时测量实时三维表面轮廓测量可选件有：多种划痕针头纳米测试模块摩擦磨损测试模块硬度测试模块声发射模块AFM模块三维显微模块