半导体激光器综合参数自动测试仪　FLDT系列半导体激光器（LD）参数测试仪是测量半导体激光器主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流，采集各种参数信号，进行LIV和LIM测试：绘制LIV曲线和LIM曲线,得到工作电流、工作电压、光功率、阈值电流、功率效率、斜率效率、微分电阻、背光电流等参数。测试夹具包括TO系列,COS 、C-MOUNT、BAR系列，光纤输出系列等等。系统还同时可以对激光器进行光谱和远场发散角进行自动测试。测试功率覆盖范围：mW-1000W以上光谱测试范围:600-1650nm进行光谱测试：绘制光谱曲线，推算峰值波长　　　和光谱谱宽进行远场测试: 绘制远场曲线，推算水平发散　　　角、垂直发散角进行热阻测试 产品参数 型号功率范围[1]功率精度波长范围[2]波长精度[3]发散角测量范围发散角精度最大电流[4]FLDT-100m1～100mW5.0%600-1650nm±0.4nm-60°～＋60°0.4°400mAFLDT-10W0.1～10W5.0%600-1650nm±0.4nm-60°～＋60°0.4°12AFLDT-100W1～100W5.0%600-1580nm±0.4nm-60°～＋60°0.4°60AFLDT-500W1～500W5.0%600-1580nm±0.4nm-60°～＋60°0.4°150A注：[1]更大功率需要定制。[2] 更大范围需要定制。[3]更高精度需要定制。[4]CW或脉冲